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CHC706-RM奧林巴斯超聲波雙晶探頭的詳細資料

奧林巴斯超聲波雙晶探頭CHC706-RM

介紹

雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發射縱波，另一個晶片作為接收器接收聲波。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達的區域進行檢測。角

度聲束探頭一般用于焊縫檢測，因為如果使用標準接觸式探頭，焊冠會擋住聲波，使聲波無法到達希望檢

測的焊縫區域，而且一般的缺陷對準操作會使角度聲束產生更強的反射信號。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測工件內部發射折射橫波或縱波。

優勢

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時，還表現出防磨特性。

• 高溫楔塊可對熱材料進行在役檢測。

• 用戶可根據需要定制楔塊，以得到非標準的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結構設計。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標準折射角度的楔塊及整合組件設計。

應用

• 缺陷探測與定量。

• 要了解衍射時差探頭。

• 檢測管道、管件、鍛件、鑄件，機加工部件和結構部件上的焊縫缺陷或裂縫。袖珍旋入式探頭

• 旋入式設計，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結構設計是在探頭晶片前插有塑料或環氧材料制成的一個薄片。

延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更的厚度測量結果。延遲塊

可根據工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。

優勢

• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應用

• 測厚。

• 垂直聲束缺陷探測。

• 對接觸區域有限的工件進行檢測?？筛鼡Q延遲塊探頭

• 每個探頭的配置都帶有一個標準延遲塊和一個固定環。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

應用

• 剩余壁厚測量。• 腐蝕/侵蝕監控。• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測。• 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。• 探測螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的*高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的*高

溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因

數為*多10秒鐘接觸，然后進行*少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶）。

• 金屬防磨環延長了探頭的壽命。• 在探頭面需要重做表面處理時，防磨指示器會提供參考信息。• 滾花，303不銹鋼外殼。

• 可更換線纜的設計（備有帶應變泄落功能的特殊雙線纜）。

復合晶片齊頭外殼雙晶