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V260-SM V260-RM V260-45奧林巴斯探頭的詳細資料

?奧林巴斯可更換延遲塊的測厚探頭

我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。

擁有40多年探頭研制經驗的OlympusNDT已經開發了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測

量及材料分析等特殊應用的各種各樣的定制探頭。

優勢• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。• 較高的探頭頻率提高了分辨率。• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應用• 測厚。• 垂直聲束缺陷探測。• 對接觸區域有限的工件進行檢測。

sonopen可更換延遲塊探頭

• 聚焦的可更換延遲塊。• 直徑極小的特點可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。

• 手柄可以方便探頭頭部的定位。

頻率   晶片尺寸        標稱           探頭 

MHz    英寸     毫米   平直手柄   直角手柄   45° 手柄

15    0.125     3    V260-SM   V260-RM    V260-45

SLH-V260-SM*裝有彈簧的支架，*僅與V260-SM一起使用

* 高溫延遲塊可在溫度高達175°C（350°F）的情況下使用。

帶有手柄組合件的延遲塊探頭這些探頭用于伸到空間極其狹小的區域進行探測，如：相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉的頭部提高了其在狹小區域接觸被測工件的能力。

頻率    標稱    延遲塊長度   探頭工件編號 

      晶片尺寸

MHz    英寸   毫米   微秒 

20     0.125   3    1.5     M2054           

20     0.125  3    4.5     M2055

20     0.125  3    4.0     V2034

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