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奧林巴斯超聲波探傷儀探頭
更新時間:2024-04-02
奧林巴斯超聲波探傷儀探頭A381-SU A395S-SU A397S-SU優勢? 水浸技術提供了一種均勻耦合的方法。? 四分之一波長的匹配層加強了聲能的輸出。? 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器。? 射頻屏蔽功能可以提高關鍵性應用的信噪比特性。? 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進行球面(點)聚焦或柱面(線)聚焦。? 用戶定制的聚焦長度可根據用戶需求聚焦聲束,以提
多選奧林巴斯超聲波探傷儀探頭的詳細資料
奧林巴斯超聲波探傷儀探頭A381-SU A395S-SU A397S-SU
優勢
• 水浸技術提供了一種均勻耦合的方法。• 四分之一波長的匹配層加強了聲能的輸出。• 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器。• 射頻屏蔽功能可以提高關鍵性應用的信噪比特性。• 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進行球面(點)聚焦或柱面(線)聚焦。• 用戶定制的聚焦長度可根據用戶需求聚焦聲束,以提高檢測小反射體的靈敏度。
應用
• 自動掃查。• 在線厚度測量。• 高速探測管道、棒材、管件、平板及其它類似部件中的缺陷。• 基于渡越時間和波幅的成像功能。• 穿透檢測。• 材料分析及聲速測量。使用注意事項:探頭浸于水中的時間不能超過8小時。探頭需要有16小時的干燥時間,以其使用壽命。
大直徑外殼
• 大直徑晶片增加了近場長度,可以得到較長的聚焦長度。• 較大的直徑可增加掃查步進距離。• 對于富有挑戰性的應用,還備有低頻、大直徑晶片的探頭。詳細型號參數選購:
如果需要一個焦點,則在*小值和 *大值之間選擇一個聚焦長度。 | |||||||
頻率 | 標稱晶片尺寸 | 未聚焦 探頭工件編號 | 點目標聚焦(英寸)* | ||||
MHz | 英寸 | 毫米 | ACCUSCAN-S | CENTRASCAN | VIDEOSCAN | *小值 | *大值 |
0.5 | 1.5 | 38 | A389S-SU | - | V389-SU | 2.15 | 3.8 |
1.125 | 29 | A391S-SU | - | V391-SU | 1.5 | 2.1 | |
1 | 25 | A301S-SU | - | V301-SU | 1.25 | 1.65 | |
0.75 | 19 | - | - | V318-SU | 0.78 | 0.93 | |
1 | 1.5 | 38 | A392S-SU | - | V392-SU | 2.5 | 7.56 |
1.125 | 29 | A394S-SU | - | V394-SU | 1.9 | 4.3 | |
1 | 25 | A302S-SU | C302-SU | V302-SU | 1.63 | 3.38 | |
0.75 | 18 | A314S-SU | - | V314-SU | 1 | 1.9 | |
2.25 | 1.5 | 38 | A395S-SU | - | V395-SU | 2.7 | 14.5 |
1.125 | 29 | A397S-SU | - | V397-SU | 2.15 | 9.5 | |
1 | 25 | A304S-SU | C304-SU | V304-SU | 1.88 | 7.6 | |
0.75 | 19 | A305S-SU | C305-SU | V305-SU | 1 | 4.3 | |
3.5 | 1 | 25 | A380S-SU | C380-SU | V380-SU | 1.95 | 11.25 |
0.75 | 19 | A381S-SU | C381-SU | V381-SU | 1 | 6.65 | |
5 | 1 | 25 | A307S-SU | - | V307-SU | 1.95 | 14.4 |
0.75 | 19 | A308S-SU | C308-SU | V308-SU | 1 | 9.5 | |
7.5 | 0.75 | 19 | A321S-SU | - | V321-SU | 1 | 12.75 |
10 | 1 | 25 | - | - | V322-SU | 2 | 20 |
0.75 | 19 | A315S-SU | - | V315-SU | 1 | 15.37 |
奧林巴斯超聲探頭選擇
接觸式探頭:
接觸式探頭是一個通常可生成縱波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面,不僅具有超
級防磨效果,可以延長探頭壽命,還可以提供適合于大多數金屬的的聲阻抗。
接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。
優勢
•WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。
• 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業部件。
• 具有與大多數金屬匹配的近似聲阻抗。
• 可用于檢測多種材料。
應用
• 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。
• 分層缺陷的探測和定量。
• 材料特性評價和聲速測量。
• 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。
• 可在50°C(122°F)的高溫下持續使用。
指尖接觸式
• 大于6毫米(0.25英寸)的探頭帶有凸節,便于抓取。
• 303不銹鋼外殼。
• 薄外形的特點便于檢測難于接觸到的表面。
• 根據客戶的要求,可免費提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。
6毫米(0.25英寸)套筒的工件編號為CAP4;3毫米
(0.125英寸)套筒的工件編號為CAP8。
• 標準配置為直角連接器,并適用于Microdot連接器。