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多選奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭的詳細資料

奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭V201-RM 至V208-RM 超薄工件測厚

我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經驗的OlympusNDT已經開發了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測量及材料分析等特殊應用的各種各樣的定制探頭。

 

優勢

• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。• 較高的探頭頻率提高了分辨率。• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應用

• 測厚。• 垂直聲束缺陷探測。• 對接觸區域有限的工件進行檢測。

可更換延遲塊探頭

• 每個探頭的配置都帶有一個標準延遲塊和 一個固定環。• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

奧林巴斯帶延遲塊測厚儀探頭

選購型號:

頻率標稱晶片尺寸探頭工件編號
MHz英寸毫米
2.250.256V204-RM
50.5013V206-RM
0.256V201-RM
100.256V202-RM
0.1253V203-RM
150.256V205-RM
200.1253V208-RM


可更換延遲塊探頭選項

標準晶片尺寸標稱延遲塊高溫干耦合延遲塊?備用固定環帶有彈簧的支架
*高175°C(350°F)*高260°C(500°F)*高480°C(900°F)
英寸毫米
0.5013DLH-2DLHT-201DLHT-2DLHT-2GDLS-2DRR-22130
0.256DLH-1DLHT-101DLHT-1DLHT-1GDLS-1DRR-12127&DRR-1H
0.1253DLH-3DLHT-301DLHT-3DLHT-3GDLS-3DRR-3

2133&DRR-3H


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