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EPOCH 1000奧林巴斯 OLYMPUS 相控陣探傷儀探頭的詳細資料

?奧林巴斯 OLYMPUS 相控陣探傷儀EPOCH 1000 相控陣探頭 

 典型相控陣探頭的頻率范圍在 1 ?MHz 到17 MHz之間，晶片數量在10個到128個之間。奧林巴斯提供各種使用壓電復合材料技術的探頭，適用于多種類型的檢測。這里說明奧林巴斯的標準相控陣探頭。這些探頭分為3種類型：角度聲束探頭、整合楔塊探頭，以及水浸式探頭。還可以設計其他類型的探頭，以滿足您的應用需求。線性陣列探頭是工業應用中常用的相控陣探頭。定義相控陣探頭的重要特征之一是的探頭孔徑。定制的相控陣探頭和楔塊 - 為定制相控陣探頭和/或楔塊我們生產的相控陣（PA）儀器可進行快速檢測，并生成被測工件內部結構的、詳細的橫截面圖像。相控陣技術使用多個超聲晶片及電子時間延遲，創建可以電子方式傳播、掃描、掃查及聚焦的聲波，以進行快速檢測、完整的數據存儲，以及多角度的檢測。相控陣技術可提供極為可靠的測量結果。

相控陣探頭焊縫系列探頭焊縫檢測探頭的線纜會從其外殼的前面或頂部伸出，這樣就可以避免線纜纏繞到掃查器的探頭架。這些探頭適用于對焊縫進行的手動和自動檢測。A31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊以其簡約的設計，不僅使焊縫檢測得到了簡化和標準化，而且還改進了信噪比。優勢特性適用于焊縫檢測的優化設計的信噪比性能寬泛的厚度測量范圍新穎的楔塊概念，可改進與工件的耦合效果在聲學上，可與Rexolite匹配典型應用A31和A32探頭使用角度聲束對3毫米到60毫米厚的焊縫進行手動或自動檢測提供用于橫波或縱波檢測的創新型楔塊設計在被動軸上聚焦（PAF）的楔塊這個已獲的聚焦楔塊系列在對管道周向上的環焊縫進行檢測時，有助于補償聲束在被動軸方向的發散現象。寬度較小的聲束可以對掃查軸方向上的較短的缺陷進行定量，從而有助于降低報廢率，并提供更清晰的圖像。碳鋼管道和平板奧林巴斯用途廣泛的焊縫檢測解決方案采用多種技術對平板和外徑等于或大于4.5英寸的管道進行多產的檢測。相控陣、衍射時差以及常規超聲等技術在檢測過程中可被單獨使用，也可以組合在一起使用，以覆蓋整個焊縫，并獲得很高的檢出率。這種解決方案還可以使用不同的掃查方式，獲得缺陷定位和定量的準確數據。掃查器具有優質的穩定性和編碼性能，不僅可使檢測符合規范的要求，還可獲得質量更好的檢測數據。在以手動、手動編碼、半自動或自動方式進行掃查并收集數據時，需使用不同的掃查器。奧林巴斯的碳鋼焊縫檢測解決方案將奧林巴斯的采集設備、掃查器、探頭，以及根據用戶的需要量身定做的軟件結合在一起使用。這種解決方案可以進行缺陷的長度和深度定量，以根據規范做出接收/拒絕的判斷。復合式掃查一次單組復合式掃查所覆蓋的區域相當于兩個扇形掃查所覆蓋的區域奧林巴斯的NDT SetupBuilder更新版軟件提供了進行復合式聲束掃查的性能。這項創新型檢測策略將扇形聲束和線性聲束混合在一起，進行檢測，具有很多優勢特性，例如：更高的檢出率檢測更厚的材料更快的檢測速度更短的設置和校準時間更快的數據分析焊縫系列PA探頭和楔塊A31和A32相控陣探頭和楔塊具有性能，可使檢測達到更高的水平。改進了信噪比符合人體工程學的設計改進了耦合效果可以進行復合式掃查高溫檢測如果用戶要求，我們可以提供一種與新款A31和A32相控陣探頭和奧林巴斯的Mini-Wheel（袖珍輪）編碼器相兼容的高溫楔塊選項。這種可選楔塊有助于對表面溫度高達150??C的工件進行檢測。次軸聚焦（PAF）楔塊已獲得權的奧林巴斯次軸聚焦楔塊系列產品有助于補償次軸方向上的聲束擴散問題，從而可以有效地進行管道環焊縫的檢測。較小的聲束寬度可以在掃查軸方向上定量較短的缺陷，從而有助于降低廢品率。此外，由于聲束能量的聚焦改進了信噪比（SNR），從而使缺陷圖像更加清晰。 雙矩陣（DMA）探頭包含兩個與同一個連接器連線的矩陣探頭，具有使用發送-接收縱波（TRL）聲束進行檢測的能力。這類探頭在檢測帶堆焊層的管道或具有高衰減性的材料時，特別有用。相控陣探頭的優勢特性具有在粒狀材料中發送和接收縱波的能力增強了在不銹鋼材料中的穿透能力，其中包括奧氏體、耐腐蝕合金，以及異種材料焊縫出色的信噪比典型應用A17、A25、A26和A27探頭不銹鋼焊縫的應用耐腐蝕合金（CRA）不銹鋼奧氏體材料帶堆焊層的管材異種材料焊縫用于腐蝕檢測的雙晶陣列探頭雙晶線性陣列探頭，在腐蝕檢測應用方面，為檢測人員提供了多種優于常規超聲雙晶探頭的優勢。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數據點密度的C掃描成像功能，從而可提高檢測效率。用于腐蝕檢測的雙晶線性陣列（DLA）探頭，與常規超聲雙晶探頭相比，具有更多優勢特性。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數據點密度的C掃描成像功能，從而可提高檢測效率。與標準相控陣脈沖回波相比，這種新探頭所采用的一發一收技術在腐蝕測量應用中可提供更好的近表面分辨率和點蝕探測能力，提高了臨界性壁厚減薄情況的檢出率。得益于其內置灌溉和可更好地貼附于管道弧面的可更換式延遲塊等新功能，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭現在可用于進行自動檢測。探頭的優勢和特性可探測表面以下1毫米的缺陷性價比較高的可更換式延遲塊內置灌溉高溫選項，可掃查熱表面聲束覆蓋寬度高達30毫米用途廣泛且調整迅速的系統，適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測堅固耐用的硬質合金防磨板，可保護楔塊碳鋼材料典型的檢測深度范圍為1毫米到80毫米USB存儲盤中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）OmniScan軟件特性側視圖、端視圖和俯視圖成像（B掃描、D掃描和C掃描）完整的高分辨率A掃描存儲兩個可配置的探測閘門在OmniScan探傷儀或使用OmniPC軟件的計算機中進行離線分析新特性，新潛能雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭和OmniScan SX探傷儀的組合是一種經濟實惠的檢測選項。這種解決方案設置方便，操作簡單：加載所提供的設置文件，核查校準情況，然后檢測并記錄數據。無需使用脈沖發生/接收（PR）儀器。無論是使用編碼器對某個區域進行手動掃查，還是使用MapROVER電動掃查器進行高速、全體積成像，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭都可以在光滑的表面上快速輕松地完成C掃描成像操作。創新型探頭穩定系統與可更換式弧面延遲塊和灌溉功能相結合，可在直徑小至4英寸的管材表面提供優質的聲束傳播效果。我們還提供可檢測溫度高達150°C表面的雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭的高溫版本。在自動檢測中與MapROVER掃查器一起使用的DLA腐蝕探頭。雙晶陣列一發一收技術與雙晶UT探頭一樣，雙晶線性陣列探頭包含一組發射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在以一定角度切割的延遲塊的兩部分上。這種配置生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可大幅降低表面反射的波幅。而且還提高了近表面分辨率，可獲得點蝕、蠕變損傷和HIC（氫致裂紋）等關鍵性缺陷的更高的檢出率。