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新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀
更新時間：2024-04-01
新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀采用磁性/渦流測量原理，測量金屬基體上涂鍍層厚度。儀器采用全金屬外殼，經過CNC精密機械加工及陽極氧化處理，并配以不銹鋼上下蓋。儀器從機身到接插件均做密封處理，*符合IP68防水防塵標準。本儀器可應用于制造業、金屬加工業、航天航空、鐵路運輸、化工業、商檢業等檢測領域，是無損檢測行業*的儀器。
CM30新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀的詳細資料
新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀
產品介紹
新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀采用磁性/渦流測量原理，測量金屬基體上涂鍍層厚度。儀器采用全金屬外殼，經過CNC精密機械加工及陽極氧化處理，并配以不銹鋼上下蓋。儀器從機身到接插件均做密封處理，*符合IP68防水防塵標準。本儀器可應用于制造業、金屬加工業、航天航空、鐵路運輸、化工業、商檢業等檢測領域，是無損檢測行業*的儀器。
CM30涂層測厚儀可選配探頭： F3：0~3000um N2：0~2000um FN1.5：0~1500um F10：0~10000um。
CM30涂層測厚儀測量方法及注意事項
握住探頭外殼靠近頭部一端。
探頭垂直落于被測物表面，直到儀器屏幕出現數值。
探頭每次抬離被測物表面高度5cm以上。
若探頭置于被測物表面長時間不出現讀數，可抬起探頭重新測量，或重啟儀器。
儀器測量界面下部有探頭測量狀態指示圖標，指示探頭處于測量被測物表面（高亮白色）或是探頭抬起（灰色）狀態
零點調整
利用無涂、覆層的被測工件或與被測工件形狀、結構相似的工件，對探頭調零。
一點校準
利用無涂、覆層的被測工件或與被測工件形狀、結構相似的工件測量標準試片厚度，并調整儀器數值與標準試片相同或接近。
兩點校準
在一點校準的基礎上，測量與第一點不同厚度的標準試片，并調整儀器數值與標準試片相同或接近。先校準厚度值較小的試片，再校準厚度值較大的試片。
技術參數
| 顯示屏 | 2.4寸（320×240）IPS彩色液晶屏 |
| 工作原理 | 電磁原理/渦流原理 |
| 單位 | 公制/英制 |
分辨率 | 高/低（僅公制模式下） |
語言 | 中文/英文 |
統計數據 | 測量值個數、平均值、MAX值、MIN值、標準偏差、變異系數 |
校準方式 | 零點調整、一點校準、兩點校準 |
文件數 | 200 |
存儲數 | 200,000 |
背光 | 6檔可調 |
關機 | 3分鐘無操作后自動關機或只能手動關機 |
通訊 | 通訊軟件（USB傳輸） |
顯示模式 | 大數值模式，統計界面模式，趨勢圖模式 |
防護等級 | IP68 |
電源 | 2節1.5V AA電池 |
操作時間 | 20小時 |
使用環境 | -10至+50℃ 無強磁場環境 |
尺寸 | 121.5mm*63.5mm*31.5mm |
重量 | 317g（不含探頭和電池 |
保修 | 1年 |
測量參數
儀器型號 | CM30F | CM30N | CM30FN | CM30FH |
| 探頭型號 | F3 | N2 | FN1.5 | F10 |
| 工作原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應/電渦流 | 磁感應 |
| 測量范圍（um） | 0~3000 | 0-2000 | 0-1500 | 0-10000 |
| 分辨力（um） | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 |
| 示值誤差（um） | ±（2%H+2） | ±（2%H+2） | ±（2%H+2） | ±（2%H+10） |
| 測量最小曲率半徑（mm） | 5 | 5 | 5 | 10 |