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回顧涂層測厚儀技術發展的歷史沿革，集中表現為以下技術特征：

• 電路設計：電子管—晶體管—集成電路—芯片L模塊化。
• 整機功能：單（原理）功能型—具有部分統計功能型—雙原理通用型—智能型。
• 探頭制式：主機探頭分離式—主機與探頭一體式（內置式探頭）—主機配多規格探頭（可供選擇更換）。
• 量值顯示：機械式（千分表）—表頭指針式—液晶數字式—數據打印式（外接或內置）。

B磁性涂鍍層測厚儀開發現狀

材料保護度測量—磁性方法》指出，磁性測厚方法的原理，或是測量*磁鐵（探頭）和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化，或是測量通過覆蓋層和基體金屬磁路的磁阻變化。因此，磁性測厚儀也包含兩種類型：一類是測量某一磁體與基體金屬間的磁引力；另一類是測量通過覆蓋層和基體金屬磁通路的磁阻。