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　　涂鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
　　
　　使用涂鍍層測厚儀時應當遵守的規定
　　
　　a基體金屬特性
　　
　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
　　
　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
　　
　　b基體金屬厚度
　　
　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
　　
　　c邊緣效應
　　
　　不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
　　
　　d曲率
　　
　　不應在試件的彎曲表面上測量。
　　
　　e讀數次數
　　
　　通常由于涂鍍層測厚儀的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
　　
　　f表面清潔度
　　
　　測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質